I ricercatori Alon Shakevsky, Eyal Ronen e Avishai Wool dell’u | Ethical Hacker Italiani
I ricercatori Alon Shakevsky, Eyal Ronen e Avishai Wool dell’università di Tel Aviv hanno illustrato le loro osservazioni in uno studio intitolato “Trust Dies in Darkness: Shedding Light on Samsung’s TrustZone Keymaster Design” (la fiducia muore nell’oscurità: fare luce sul design Keymaster per TrustZone di Samsung).
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